[发明专利]检测或比较高分子聚合材料力学强度的方法有效
| 申请号： | 201710417181.1 | 申请日： | 2017-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN107271412B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 常冠军;杨莉;杨军校 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N3/08 |
| 代理公司： | 成都中玺知识产权代理有限公司 51233 | 代理人： | 邢伟;谭昌驰 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测或比较高分子聚合材料力学强度的方法。所述检测方法包括：测定多个样品中的每个样品的力学强度和荧光吸收光谱的最大值，形成荧光吸收光谱的最大值与力学强度的曲线关系或函数关系；测量待测目标材料的荧光吸收光谱的最大值，利用所述曲线关系或函数关系对应得出该待测目标材料的力学强度。其中，所述多个样品和待测目标材料均由高分子聚合物构成，所述高分子聚合物以二磺酸二氟二苯甲酮、羟基吲哚和二氟二苯甲酮为单体，且所述二磺酸二氟二苯甲酮的磺酸基上存在金属阳离子。本发明能够通过荧光无损探测的方式实现对高分子聚合材料力学性能的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 比较 高分子 聚合 材料力学 强度 方法 | ||
【主权项】：
一种检测高分子聚合材料力学强度的方法，所述方法包括以下步骤：测定多个样品中的每个样品的力学强度和荧光吸收光谱的最大值，形成荧光吸收光谱的最大值与力学强度的曲线关系或函数关系；测量待测目标材料的荧光吸收光谱的最大值，利用所述曲线关系或函数关系对应得出该待测目标材料的力学强度，其中，所述多个样品和待测目标材料均由高分子聚合物构成，所述高分子聚合物以二磺酸二氟二苯甲酮、羟基吲哚和二氟二苯甲酮为单体，且所述二磺酸二氟二苯甲酮的磺酸基上存在金属阳离子；或者所述高分子聚合物结构通式为：其中，⊕为金属阳离子，m的取值范围为1～100，n的取值范围为200～400。
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