[发明专利]氮化镓器件结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710396484.X 申请日: 2017-05-31
公开(公告)号: CN107039373A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 母凤文;赫然 申请(专利权)人: 母凤文;赫然
主分类号: H01L23/373 分类号: H01L23/373;H01L29/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 100044 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种具有高散热性能的氮化镓器件结构及其制备方法,该结构包括氮化镓芯片、刻蚀停止层和金刚石散热层,刻蚀停止层具有一第一表面,作为生长界面,金刚石散热层生长于刻蚀停止层的第一表面上;刻蚀停止层具有一与第一表面相对的第二表面,作为键合界面,氮化镓芯片键合于刻蚀停止层的第二表面上;刻蚀停止层由高热导率材料构成。氮化镓芯片与金刚石键合结构的制造方法为低温工艺,避免了高温下热失配产生的翘曲问题,且不对已有器件造成破坏,可实现带有器件的氮化镓晶圆或芯片与较薄金刚石层的集成,无需使用自支撑的金刚石厚膜基板,可在保证增强散热性能的同时显著降低成本,解决了氮化镓散热方案成本较高且散热效果差的问题。
搜索关键词: 氮化 器件 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种氮化镓器件结构,该氮化镓器件结构包括一氮化镓芯片、一刻蚀停止层和一金刚石散热层,其中:该刻蚀停止层具有一第一表面,作为生长界面,该金刚石散热层生长于该刻蚀停止层的该第一表面上;该刻蚀停止层具有一与所述第一表面相对的第二表面,作为键合界面,该氮化镓芯片键合于该刻蚀停止层的该第二表面上。
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