[发明专利]对大规模多入多出无线系统执行空中测试的系统和方法有效
申请号: | 201710362767.2 | 申请日: | 2017-05-22 |
公开(公告)号: | CN108966264B | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 文竹;井亚;陈少博;孔宏伟 | 申请(专利权)人: | 是德科技股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/08 | 分类号: | H04W24/08 |
代理公司: | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于测试待测设备的测试系统包括:信号处理器,其配置为产生多个独立信号,并且将第一衰落通道特性应用于每个独立信号以产生多个第一衰落测试信号;测试系统接口,其配置为将所述多个第一衰落测试信号提供给待测设备(DUT)的一个或多个信号输入接口;第二信号处理器,其配置为将第二衰落通道特性应用于DUT的多个输出信号以产生多个第二衰落测试信号,其中从第一衰落通道特性得到第二衰落通道特性;一个或多个测试仪,其配置为从多个第二衰落测试信号中测量DUT的至少一个性能特性。 | ||
搜索关键词: | 大规模 多入多出 无线 系统 执行 空中 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测试具有多输入多输出天线元件的阵列的多输入多输出待测设备的方法,所述方法包括:使用布置在空中测试室内并且位于多输入多输出天线元件的近场区域中的多个探针天线来测量多输入多输出待测设备的多输入多输出天线元件的阵列的至少一个校准参数;使用布置在空中测试室内并且位于多输入多输出天线元件的近场区域中的多个探针天线来测量多输入多输出待测设备的多个射频通道中每一个的至少一个射频通道参数;在沿着与多输入多输出天线元件的阵列正交的中心轴的第一点,测量由空中测试室内的多输入多输出天线元件产生的近场辐射图案的第一近场强度,在沿着限定多输入多输出天线元件的远场辐射图案的主瓣的期望波束带宽的第一圆周所布置的多个其他点,测量由空中测试室内的多输入多输出天线元件产生的近场辐射图案的附加近场强度;和对近场辐射图案的所测近场强度应用映射关系,以确定多输入多输出天线元件的远场辐射图案的波束增益和主瓣的波束宽度。
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