[发明专利]一种基于光谱分析的皮革无损检测方法及其系统在审
| 申请号： | 201710339817.5 | 申请日： | 2017-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN107014770A | 公开（公告）日： | 2017-08-04 |
| 发明（设计）人： | 崔哲;李伟平 | 申请（专利权）人： | 崔哲 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京创遇知识产权代理有限公司11577 | 代理人： | 李芙蓉,冯建基 |
| 地址： | 100020 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光谱分析的皮革无损检测方法及其系统，用以解决现有皮革检测方法不能够快速准确地对皮革进行无损检测的问题。该方法包括如下步骤建立光谱数据库预先采集皮革的样本光谱数据，并给每一组所述样本光谱数据设置属性标签信息，并且将所述样本光谱数据和对应的所述属性标签信息存储到光谱数据库；光谱数据预处理根据所述属性标签信息对所述光谱数据库的所述样本光谱数据进行分类，并获得皮革光谱模型，存储到皮革光谱模型库；皮革光谱实时检测采集所需要检测的皮革光谱数据，与所述皮革光谱模型进行比对，并输出所需要检测的皮革检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱分析 皮革 无损 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种基于光谱分析的皮革无损检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S101、建立光谱数据库：预先采集皮革的样本光谱数据，并给每一组所述样本光谱数据设置属性标签信息，并且将所述样本光谱数据和对应的所述属性标签信息存储到光谱数据库；S102、光谱数据预处理：根据所述属性标签信息对所述光谱数据库的所述样本光谱数据进行分类，并获得皮革光谱模型，存储到皮革光谱模型库；S103、皮革光谱实时检测：采集所需要检测的皮革光谱数据，与所述皮革光谱模型进行比对，并输出所需要检测的皮革检测结果。
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