[发明专利]一种性能瓶颈定位量化方法、装置及嵌入式IO系统有效
| 申请号： | 201710325195.0 | 申请日： | 2017-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN108874613B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 张涛 | 申请（专利权）人： | 鸿秦（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/30 | 分类号： | G06F11/30 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种性能瓶颈定位量化方法、装置及嵌入式IO系统，所述嵌入式IO系统包括至少一个CPU和硬件IO，CPU与硬件IO通过系统总线共享存储器和定时器，该性能瓶颈定位量化方法包括：通过固件采集定时器中的CPU时间和IO时间，得到整个嵌入式IO系统在一段时间内的耗时统计数据；在上位机中根据耗时统计数据得到CPU时间及IO时间的时间轴关系，通过时间轴关系直观反映嵌入式IO系统性能瓶颈的位置和原因，对嵌入式IO系统进行性能优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 瓶颈 定位 量化 方法 装置 嵌入式 io 系统 | ||
【主权项】：
1.一种性能瓶颈定位量化方法，应用于嵌入式IO系统，其特征是：所述嵌入式IO系统包括至少一个CPU和硬件IO，CPU与硬件IO通过系统总线共享存储器和定时器，该性能瓶颈定位量化方法包括：(1)通过固件采集定时器中的CPU时间和IO时间，得到整个嵌入式IO系统在一段时间内的耗时统计数据；(2)在上位机中根据耗时统计数据得到CPU时间及IO时间的时间轴关系，通过时间轴关系直观反映嵌入式IO系统性能瓶颈的位置和原因，对嵌入式IO系统进行性能优化。
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