[发明专利]一种采用电子散斑技术的全场式缺陷的电磁检测方法

摘要

本发明涉及一种阵列式洛伦兹力微颗粒探测法，可用于探测导体中的微颗粒及缺陷。在洛伦兹力微颗粒探测法的基础上，采用阵列式排布探头，对以固定速度旋转N周的试样进行扫描，并采用电子散斑动态微变形测量方法实时监测由微颗粒或缺陷引起的悬臂梁位移的变化；在信号采集过程中，采用角度编码器检测旋转试样的角位移，形成特定时序的触发信号控制高速相机按特定逻辑时序进行散斑干涉图的采集，按采集的时间顺序处理后可获得悬臂梁位移量变化曲线；最后对位移量变化曲线进行分析获得洛伦兹力变化量，进而提取出缺陷的特征信息；本发明测量过程中引入了角度编码器及相关控制电路控制高速相机的采样过程；测量方法简单；测量准确度高；测量效率高。

主权项

1.一种用于探测导体中的微颗粒及缺陷的阵列式洛伦兹力微颗粒探测法，其特征在于，所述方法包括：步骤1，含有缺陷的试样置于旋转台上以固定速度旋转N周；步骤2，阵列式排布永磁体‑悬臂梁系统对旋转的试样一定区域进行扫描，并采用电子散斑动态微变形测量方法实时监测由微颗粒或缺陷引起的悬臂梁位移的变化；步骤3，角度编码器检测旋转物体的角位移，形成特定时序的触发信号控制高速相机按特定逻辑时序进行散斑干涉图的采集(如步骤1中第一周的T1时刻)，即获得悬臂梁变形过程T1时刻的位移量；步骤4，重复步骤3，但是在步骤1中第2周的T1的下一个时刻T2进行散斑干涉图的采集，即获得悬臂梁变形过程T2时刻的位移量；步骤5，重复步骤3第N次，在第N次旋转周期中的，相对于上一旋转周期(N‑1)的TN‑1时刻的下一个时刻TN进行散斑干涉图的采集，即获得悬臂梁变形过程TN时刻的位移量；步骤6，对上述步骤中获得的N次悬臂梁位移量按采集的时间顺序处理获得缺陷经过电磁敏感区时引起的悬臂梁位移量变化曲线。步骤7，根据步骤6中获得的悬臂梁位移量变化曲线分析获得洛伦兹力变化量，进而提取出缺陷的特征信息；