[发明专利]基于图像识别的物体位移测量方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201710285370.8 申请日: 2017-04-27
公开(公告)号: CN107101584B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 陈长征;聂婷;何斌;薛金来 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及一种基于图像识别的物体位移测量方法,所述测量方法包括以下步骤:基于预设的靶标图像,获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据;对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理,得到第一检测图像对应的第一边缘图数据和第二检测图像对应的第二边缘图数据;根据第一检测图像对应的第一边缘图数据、第二检测图像对应的第二边缘图数据和亚像素质心法定位,得到第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合;根据第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合点,得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵;根据预设的焦距和预设的物距以及第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵,得到物体在第一位置和物体在第二位置的相对距离。
搜索关键词: 基于 图像 识别 物体 位移 测量方法 装置 系统
【主权项】:
一种基于图像识别的物体位移测量方法,其特征在于:所述测量方法包括以下步骤:基于预设的靶标图像,获取物体在第一位置的第一检测图像数据和物体在第二位置的第二检测图像数据;对第一检测图像数据和第二检测图像数据进行边缘检测处理,得到第一检测图像对应的第一边缘图数据和第二检测图像对应的第二边缘图数据;根据第一检测图像对应的第一边缘图数据、第二检测图像对应的第二边缘图数据和亚像素质心法定位,得到第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合;根据第一检测图像对应的特征点集合和第二检测图像对应的特征点集合点,得到第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵;根据预设的焦距和预设的物距以及第一检测图像和第二检测图像的最佳投影关系矩阵,得到物体在第一位置和物体在第二位置的相对距离。
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