[发明专利]一种浅层随钻电法探测方法和装置有效
| 申请号： | 201710275352.1 | 申请日： | 2017-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN106950605B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 张建锋;谢玉华;郭士礼;李恒乐;路德萍 | 申请（专利权）人： | 河南工程学院 |
| 主分类号： | G01V3/20 | 分类号： | G01V3/20;E21B47/00;E21B49/00 |
| 代理公司： | 郑州先风知识产权代理有限公司 41127 | 代理人： | 黄伟 |
| 地址： | 451191 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种浅层随钻电法探测方法和装置。在钻探过程中实施的，且探测的四个接触点都在目标介质上，不需要反演工作，能够直接准确探测目标层的物理参数。此外，由于该方法不需要采取样品，最大限度上保持了探测目标介质的物理状态，属于原位测试方法，探测的介质参数更加接近真实值，且实施过程快速，效率明显增强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 浅层随钻电法 探测 方法 装置 | ||
【主权项】：
浅层随钻电法探测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，在目标地区的地表打孔；步骤二，钻孔至指定深度时，测量第一测点A和第二测点B之间的电流值，测量第一测点A和第二测点B之间的第三测点M和第四测点N之间的电压值，所述第一测点A、第三测点M、第四测点N和第二测点B在目标层中自上而下顺序分布；步骤三，通过下面公式计算目标层的电阻率值ρS：ρS=KΔUI]]>式中，K＝1/(hAM‑1‑hAN‑1+hBN‑1‑hBM‑1)，hAM——第一测点和第三测点之间的高度差，hAN——第一测点和第四测点之间的高度差，hBN——第二测点和第四测点之间的高度差，hBM——第二测点和第三测点之间的高度差，ΔU——电压值，I——电流值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河南工程学院，未经河南工程学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710275352.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：开关设备可滑动拆卸可局部翻转开启式小母线盖板装置
- 下一篇：壁挂式智能投递柜
