[发明专利]陀螺仪自校准和陀螺仪质量块摆幅测量装置、方法在审
申请号: | 201710269924.5 | 申请日: | 2017-04-21 |
公开(公告)号: | CN107084745A | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 许建军;王玮冰;李佳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种陀螺仪自校准和陀螺仪质量块摆幅测量装置、方法,其中陀螺仪自校准装置包括信号发生器,用于产生调制信号,该调制信号包括驱动陀螺仪谐振运动的驱动信号和激励陀螺仪中的质量块产生摆幅的电激励信号;检测及分析电路,用于检测摆幅得到摆幅信号,将摆幅信号转换为电压信号,并分析得到电压信号中的边频带比值;其中,电激励信号的角速度与电压信号中的边频带比值存在非线性关系。本发明采用电激励信号进行校准,无需使用高精度物理转台,简化了陀螺仪在出厂时标定的过程,降低了校准成本;在使用过程中,用户可实时进行陀螺仪的自校准,因此避免了由于器件老化、环境温度变化、系统噪声等产生的器件参数变化,陀螺仪精度的下降。 | ||
搜索关键词: | 陀螺仪 校准 质量 块摆幅 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种陀螺仪自校准装置,包括:信号发生器,用于产生调制信号,所述调制信号包括:驱动信号,用于驱动所述陀螺仪谐振运动;电激励信号,用于激励所述陀螺仪中的质量块产生摆幅;检测及分析电路,用于检测所述摆幅得到摆幅信号,将所述摆幅信号转换为电压信号,并分析得到所述电压信号中的边频带比值;其中,所述陀螺仪基于电激励信号的角速度与所述电压信号中的边频带比值之间存在的非线性关系,得到校准的外界环境的旋转角速度。
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