[发明专利]基于氧化镓的结势垒肖特基二极管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710264497.1 申请日: 2017-04-20
公开(公告)号: CN107026209A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 龙世兵;何启鸣;董航;刘琦;吕杭炳;刘明 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/24;H01L21/329
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于氧化镓的结势垒肖特基二极管及其制备方法,包括衬底,由氧化镓材料制备;上漂移层,形成于衬底的上侧,由氧化镓材料制备;n型掺杂区,存在于上漂移层和下漂移层中;p‑n结势垒,形成于上漂移层中,包含n型掺杂区和p+离子掺杂区;下漂移层,形成于衬底的下侧,由氧化镓材料制备;肖特基接触电极,与上漂移层上表面的一部分相接触;氧化层,形成于上漂移层上表面,部分与肖特基接触电极的外侧相切;以及金属欧姆接触电极,与下漂移层下表面接触。通过在结势垒肖特基二极管上采用氧化镓材料,其较大的禁带宽度和较高的击穿场强适合用作大功率半导体器件,且制备工艺简单,成本较低,实现与现有半导体工艺的接驳。
搜索关键词: 基于 氧化 结势垒肖特基 二极管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于氧化镓的结势垒肖特基二极管,包括:衬底(100),由氧化镓材料制备;上漂移层(201),形成于衬底的上侧,由氧化镓材料制备;n型掺杂区(211),经由所述上漂移层(201)的氧化镓材料进行n型离子轻掺杂后获得;p‑n结势垒(210),形成于上漂移层(201)中,包含所述n型掺杂区(211)和p+离子掺杂区(212),该p+离子掺杂区(212)是将p+离子注入所述n型掺杂区(211)而得到的;下漂移层(202),形成于衬底的下侧,由氧化镓材料制备;n型掺杂区(221),经由所述下漂移层(202)的氧化镓材料进行n型离子重掺杂后获得;肖特基接触电极(300),与所述上漂移层(201)上表面的一部分相接触;氧化层(500),形成于所述上漂移层(201)上表面,部分与肖特基接触电极(300)的外侧相切;以及金属欧姆接触电极(400),与所述下漂移层(202)下表面接触。
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