[发明专利]使用多个信号路径的传感器自诊断在审

专利信息
申请号: 201710257680.9 申请日: 2017-04-19
公开(公告)号: CN107305235A 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: F.加斯廷格;W.格拉尼希;D.哈默施密特;M.莫茨;F.拉斯博尼希;B.沙费尔 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 申屠伟进,杜荔南
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及使用多个信号路径的传感器自诊断。实施例涉及用于使用多个信号路径进行传感器自诊断的系统和方法。在实施例中,传感器是磁场传感器,并且系统和/或方法配置成满足或超过相关安全或其它工业标准,诸如SIL标准。例如,在单个半导体芯片上实现的单片式集成电路传感器系统可以包括第一传感器设备,具有半导体芯片上针对第一传感器信号的第一信号路径;以及第二传感器设备,具有半导体芯片上针对第二传感器信号的第二信号路径,第二信号路径与第一信号路径不同,其中第一信号路径信号和第二信号路径信号的比较提供传感器系统自测试。
搜索关键词: 使用 信号 路径 传感器 诊断
【主权项】:
一种单片式集成电路,包括:配置成指示物理量的第一传感器设备,第一传感器设备具有半导体芯片上针对第一传感器信号的第一信号路径;以及配置成指示所述物理量的第二传感器设备,第二传感器设备具有半导体芯片上针对第二传感器信号的第二信号路径,第二信号路径与第一信号路径分离且不同并且当与第一信号路径相比时具有选自包括以下的组的至少一个特性:具有较低的采样率、较高的延时时间、较低的带宽、较低的精度、具有较多的噪声、较小的模拟到数字转换分辨率以及较小的信号范围,其中与第一传感器设备包括第一感测元件相比,第二传感器设备包括更少的第二感测元件;与第一传感器设备包括第一感测面积的第一感测元件相比,第二传感器设备包括更小的第二敏感面积的第二感测元件,具有不同的工作原理、不同的信号编码、不同的传感器信号映射、不同的补偿算法和不同的处理调度,并且其中与第一信号路径有关的第一输出信号和与第二信号路径有关的第二输出信号能从单片式集成电路传送到外部控制单元。
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