[发明专利]基于异质键合的微型水下可见光通信双工器件及制备方法有效
申请号: | 201710240402.2 | 申请日: | 2017-04-13 |
公开(公告)号: | CN107104169B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 李欣;王永进;施政;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | H01L31/147 | 分类号: | H01L31/147;H01L31/18 |
代理公司: | 江苏爱信律师事务所 32241 | 代理人: | 刘琦 |
地址: | 210003 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于异质键合的微型水下可见光通信双工器件及制备方法,实现载体为硅衬底氮化物晶片和N型掺杂硅晶片,所述硅衬底氮化物晶片包括顶层氮化物和位于顶层氮化物下部的硅衬底层,硅衬底层部分掏空,形成悬空部位,悬空部位上方的顶层氮化物和镍/金电极构成薄膜LED蓝光发光器件,N型掺杂硅晶片顶层设置有适用于蓝光波段的光电传感器件,所述N型掺杂硅晶片为本征硅晶片掺杂磷元素。本发明器件设备体积小,能够实现水下高性能高速双向可见光通信。 | ||
搜索关键词: | 基于 异质键合 微型 水下 可见 光通信 双工 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于异质键合的微型水下可见光通信双工器件制备方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤(1)在硅衬底氮化物晶片的顶层氮化物上表面进行光学光刻定义LED发光区域,并进行三五族材料反应离子刻蚀,暴露出用于制备负电极的LED层中的N型氮化物材料区域;步骤(2)在硅衬底氮化物晶片顶层氮化物上表面进行光学光刻,定义LED器件正负电极的图形结构;步骤(3)采用等离子体增强化学气相沉积技术在所述硅衬底氮化物晶片顶层氮化物上表面沉积二氧化硅层,在二氧化硅层表面进行光学光刻定义出光电传感器件电极的图形,并进行氢氟酸湿法刻蚀,将光电传感器件电极的图形转移至二氧化硅层上;步骤(4)在所述硅衬底氮化物晶片下表面进行光学光刻,定义薄膜LED蓝光发光器件与光电传感器件进行异质键合的键合点;步骤(5)在所述硅衬底氮化物晶片下表面进行光学光刻,定义硅衬底层的悬空区域的图形结构,采用深硅反应离子刻蚀技术将该图形结构区域的硅材料掏空,形成薄膜LED蓝光发光器件;步骤(6)采用离子注入技术在N型掺杂硅晶片上表面用于探测蓝光的区域注入硼元素,形成P型掺杂,制成硅基PN结;步骤(7)在所述N型掺杂硅晶片上表面进行光学光刻,定义光电传感器件正负电极的图形结构;步骤(8)采用金硅键合技术形成金硅互熔混合物,实现薄膜LED蓝光发光器件与光电传感器件之间的异质键合;步骤(9)采用三五族材料反应离子刻蚀技术,去除所述硅衬底氮化物晶片上光电传感器件电极的区域的氮化物层;步骤(10)采用深硅反应离子刻蚀技术,去除所述硅衬底氮化物晶片上光电传感器件电极的区域的硅衬底;步骤(11)采用二氧化硅反应离子刻蚀技术,去除在所述步骤(10)深硅反应离子刻蚀中用于保护硅基光电传感器件区域的二氧化硅层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京邮电大学,未经南京邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710240402.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的