[发明专利]结构光测距装置及方法

摘要

本发明公开了一种结构光测距装置及方法。该装置包括：红外光源，具有预定的工作周期，并且在每个工作周期内具有预定的点亮和关闭时段，红外光源在点亮时段向被测空间投射结构光；图像传感器，以预定的帧周期对所述被测空间内反射的结构光进行成像，点亮时段的长度Ton和关闭时段的长度Toff分别是帧周期的长度Tfr的整数倍；以及连接至所述红外光源和所述图像传感器的处理器，对在同一工作周期内的点亮时段和关闭时段获取的图像帧进行差分处理，并且根据确定经差分处理的图像帧中每一个反射片段相对于所述图像传感器的深度数据。本发明的结构光测距装置通过配合红外光源亮灭进行成像和差分计算，能够以最小代价去除背景光干扰。

主权项

一种结构光测距装置，包括：红外光源，具有预定的工作周期，并且在每个工作周期内具有预定的点亮时段和关闭时段，所述红外光源在所述点亮时段向被测空间投射结构光；图像传感器，所述图像传感器以预定的帧周期对所述被测空间内反射的结构光进行成像，所述点亮时段的长度Ton和所述关闭时段的长度Toff分别是所述帧周期的长度Tfr的整数倍；以及连接至所述红外光源和所述图像传感器的处理器，所述处理器对在同一工作周期内的点亮时段和关闭时段获取的图像帧进行差分处理，并且根据确定经差分处理的图像帧中每一个反射片段相对于所述图像传感器的深度数据。