[发明专利]低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710220506.7 申请日: 2017-04-06
公开(公告)号: CN107132420B 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 赵飞;裴静;阚劲松;王酣 申请(专利权)人: 中国电子技术标准化研究院;北京赛西科技发展有限责任公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京头头知识产权代理有限公司 11729 代理人: 刘锋
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法,属于微波测试技术领域。所述低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统包括网络分析仪、专用测试夹具和同轴电缆,所述专用测试夹具包括上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔,所述上半封闭谐振腔与下半封闭谐振腔之间设置有样品架,所述样品架的上方中部设置有用于放置被测样品的第一盲孔,所述上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔上均设置有耦合探针,所述耦合探针通过所述同轴电缆与网络分析仪连接。本发明对被测样品不会造成损伤或损失,并且结构简单、操作方便、测试效率高和测试准确度高。
搜索关键词: 损耗 介质 粉末 液体 微波 介电常数 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统,其特征在于,包括网络分析仪、专用测试夹具和同轴电缆,所述专用测试夹具包括上半封闭谐振腔、下半封闭谐振腔和设置于所述上半封闭谐振腔与下半封闭谐振腔之间的样品架,所述样品架的上方中部设置有用于放置被测样品的第一盲孔,所述上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔上均设置有耦合探针,所述耦合探针通过所述同轴电缆与网络分析仪连接;所述第一盲孔的直径大于所述上半封闭谐振腔的内腔直径和下半封闭谐振腔的内腔直径,并且小于所述上半封闭谐振腔的外壁直径和下半封闭谐振腔的外壁直径;所述第一盲孔的上方设置有与所述第一盲孔同轴的第二盲孔,所述第二盲孔的直径大于所述第一盲孔的直径,所述样品架的下方设置有与所述第一盲孔同轴的第三盲孔,所述上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔分别紧密卡设在所述第二盲孔和第三盲孔上。
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