[发明专利]采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法有效
申请号: | 201710216551.5 | 申请日: | 2017-04-05 |
公开(公告)号: | CN106981543B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | 黄建;姜华男;杨修伟;廖乃镘;袁安波 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;H01L31/028 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 侯懋琪;侯春乐 |
地址: | 400060 重庆*** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法,所述方法的步骤为:1)提供硅片;对硅片表面进行清洗;2)硅片上用于制作黑硅层的区域记为操作区;采用电子束蒸发镀膜工艺或磁控溅射镀膜工艺,在操作区表面生长铝硅共晶薄膜;3)采用等离子刻蚀工艺对铝硅共晶薄膜中的硅进行选择性刻蚀,将铝硅共晶薄膜中的硅刻蚀掉;4)利用铝硅共晶薄膜中残留的铝作为掩膜,采用等离子刻蚀工艺对操作区上的硅进行选择性刻蚀,从而在操作区上形成黑硅层;5)采用等离子刻蚀工艺对所述掩膜进行选择性刻蚀,将掩膜刻蚀掉,然后对黑硅层进行清洗。本发明的有益技术效果是:能制作出形貌优良的黑硅层。 | ||
搜索关键词: | 采用 铝硅共晶 薄膜 辅助 刻蚀 制备 黑硅层 方法 | ||
【主权项】:
1.一种采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法,其特征在于:所述方法的步骤为:1)提供硅片;对硅片表面进行清洗;2)硅片上用于制作黑硅层的区域记为操作区;采用电子束蒸发镀膜工艺或磁控溅射镀膜工艺,在操作区表面生长铝硅共晶薄膜;3)采用等离子刻蚀工艺对铝硅共晶薄膜中的硅进行选择性刻蚀,将铝硅共晶薄膜中的硅刻蚀掉;4)利用铝硅共晶薄膜中残留的铝作为掩膜,采用等离子刻蚀工艺对操作区上的硅进行选择性刻蚀,从而在操作区上形成黑硅层;5)采用等离子刻蚀工艺对所述掩膜进行选择性刻蚀,将掩膜刻蚀掉,然后对黑硅层进行清洗。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的