[发明专利]采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法有效

专利信息
申请号: 201710216551.5 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN106981543B 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 黄建;姜华男;杨修伟;廖乃镘;袁安波 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0236;H01L31/028
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 侯懋琪;侯春乐
地址: 400060 重庆*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法,所述方法的步骤为:1)提供硅片;对硅片表面进行清洗;2)硅片上用于制作黑硅层的区域记为操作区;采用电子束蒸发镀膜工艺或磁控溅射镀膜工艺,在操作区表面生长铝硅共晶薄膜;3)采用等离子刻蚀工艺对铝硅共晶薄膜中的硅进行选择性刻蚀,将铝硅共晶薄膜中的硅刻蚀掉;4)利用铝硅共晶薄膜中残留的铝作为掩膜,采用等离子刻蚀工艺对操作区上的硅进行选择性刻蚀,从而在操作区上形成黑硅层;5)采用等离子刻蚀工艺对所述掩膜进行选择性刻蚀,将掩膜刻蚀掉,然后对黑硅层进行清洗。本发明的有益技术效果是:能制作出形貌优良的黑硅层。
搜索关键词: 采用 铝硅共晶 薄膜 辅助 刻蚀 制备 黑硅层 方法
【主权项】:
1.一种采用铝硅共晶薄膜辅助干法刻蚀制备黑硅层的方法,其特征在于:所述方法的步骤为:1)提供硅片;对硅片表面进行清洗;2)硅片上用于制作黑硅层的区域记为操作区;采用电子束蒸发镀膜工艺或磁控溅射镀膜工艺,在操作区表面生长铝硅共晶薄膜;3)采用等离子刻蚀工艺对铝硅共晶薄膜中的硅进行选择性刻蚀,将铝硅共晶薄膜中的硅刻蚀掉;4)利用铝硅共晶薄膜中残留的铝作为掩膜,采用等离子刻蚀工艺对操作区上的硅进行选择性刻蚀,从而在操作区上形成黑硅层;5)采用等离子刻蚀工艺对所述掩膜进行选择性刻蚀,将掩膜刻蚀掉,然后对黑硅层进行清洗。
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