[发明专利]α/β表面污染阵列探测器及探测系统

摘要

本发明实施例提供了一种α/β表面污染阵列探测器及探测系统。该α/β表面污染阵列探测器包括控制器、电机驱动电路、计数器、多道比较器、高压模块及多个探测器单元。每个探测器单元包括直线电机及依次电性连接的前放电路、光电倍增管及α/β复合探测器，α/β复合探测器的探头设置在直线电机的伸缩机构上，可随伸缩机构的运动而运动，电机驱动电路与直线电机、控制器均电连接，多道比较器与前放电路、计数器均电连接，高压模块与光电倍增管、控制器均电连接，控制器还与计数器电连接。本发明实施例通过设置多个α/β复合探测器，通过电机驱动电路和直线电机控制每个探测器探头的伸缩距离，达到多点测量以及精准测量的目的，操作方便。

主权项

一种α/β表面污染阵列探测器，其特征在于，包括控制器、电机驱动电路、计数器、多道比较器、高压模块及多个探测器单元，每个所述探测器单元包括直线电机及依次电性连接的前放电路、光电倍增管及α/β复合探测器，所述α/β复合探测器的探头设置在所述直线电机的伸缩机构上，可随所述伸缩机构的运动而运动，所述电机驱动电路与所述直线电机、控制器均电连接，所述多道比较器与所述前放电路、计数器均电连接，所述高压模块与所述光电倍增管、控制器均电连接，所述控制器还与所述计数器电连接，所述α/β复合探测器被配置为吸收物体表面的α/β射线，产生光电子；所述光电倍增管被配置为将所述光电子转换为电脉冲，并输出至所述前放电路；所述前放电路被配置为将所述电脉冲进行放大并将放大后的电脉冲发送至所述多道比较器；所述多道比较器被配置为将所述电脉冲与预设的阈值进行比较，以甄别α波或β波并将所述电脉冲发送至所述计数器；所述计数器被配置为对所述电脉冲中表征的α波和β波分别进行计数，并将计数结果发送至所述控制器；所述控制器被配置为将所述计数结果发送至一上位机进行归纳统计；所述高压模块被配置为响应所述控制器的控制输出电压至所述光电倍增管以控制所述光电倍增管的转换放大倍数；所述控制器被配置为响应所述上位机发送的调节信号，向所述电机驱动电路发送驱动信号；所述电机驱动电路被配置为响应所述驱动信号，控制对应的所述直线电机伸缩以带动对应的α/β复合探测器的探头运动。