[发明专利]一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法在审
| 申请号： | 201710192711.7 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN106949916A | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 祝连庆;何巍;董明利;李红;娄小平;刘锋;闫光 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353;G01B11/16;G01K11/32 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11416 | 代理人： | 顾珊,庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法，包括a)对光纤端面进行腐蚀处理；b)将腐蚀处理的光纤端面与切平面的光纤相对熔接；c)熔接至孔槽发生膨胀，在纤芯位置产生气泡；d)通过光谱仪对经过气泡传输光发生变化的光程进行观测，产生梳状谱曲线；e)应用所述梳状谱曲线进行传感测试；f)当干涉仪受到外界影响导致气泡结构发生改变，光程差发生变化，导致干涉梳状谱改变，干涉条纹产生移动；g)将气泡传感器和光纤光栅熔接在一起，可同时对温度以及应变进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 光纤 端面 腐蚀 温度 应变 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法，包括步骤：a)对光纤端面进行腐蚀处理；b)将腐蚀处理的光纤端面与切平面的光纤相对熔接；c)熔接至孔槽发生膨胀，在纤芯位置产生气泡；d)通过光谱仪对经过气泡传输光发生变化的光程进行观测，产生梳状谱曲线；e)应用所述梳状谱曲线进行传感测试；f)当干涉仪受到外界影响导致气泡结构发生改变，光程差发生变化，导致干涉梳状谱改变，干涉条纹产生移动；g)将气泡传感器和光纤光栅熔接在一起，可同时对温度以及应变进行测试。
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