[发明专利]基于特征的增材制造方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710148863.7 申请日: 2017-03-14
公开(公告)号: CN106985395B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 肖文磊;马国财;赵罡;张鹏飞 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: B29C64/386 分类号: B29C64/386;B33Y50/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;刘芳
地址: 100191 北京市海淀区学*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于特征的增材制造方法及装置,属于增材制造技术领域。该方法包括:对零件模型进行特征分解,得到第一类特征和第二类特征,第一类特征为基于平面的特征,第二类特征为基于曲面的特征;根据M轴特征获取第一类特征对应的第一增材制造路径,M为大于0的整数;根据N轴特征获取第二类特征对应的第二增材制造路径,N为大于0的整数,且N不等于M;根据第一增材制造路径和第二增材制造路径对零件模型进行增材制造。本发明提供的基于特征的增材制造方法及装置,提高了打印的效率。
搜索关键词: 基于 特征 制造 方法 装置
【主权项】:
1.一种基于特征的增材制造方法,其特征在于,包括:对零件模型进行特征分解,得到第一类特征和第二类特征,所述第一类特征为基于平面的特征,所述第二类特征为基于曲面的特征;根据M轴特征获取所述第一类特征对应的第一增材制造路径,M为大于0的整数;根据N轴特征获取所述第二类特征对应的第二增材制造路径,N为大于0的整数,且N不等于M;根据所述第一增材制造路径和所述第二增材制造路径对所述零件模型进行增材制造;所述根据M轴特征获取所述第一类特征对应的第一增材制造路径,包括:获取M轴特征的第一几何特征,所述第一几何特征为拉伸特征、放样特征、基于面片的M轴特征及基于边界的M轴特征中的任一种;获取第一路径规划参数;所述第一路径规划参数包括:第一增材制造层高、第一路径生成模式及第一路径偏移量;根据所述第一几何特征和所述第一路径规划参数获取所述第一类特征对应的第一增材制造路径;所述根据N轴特征获取所述第二类特征对应的第二增材制造路径,包括:获取N轴特征的第二几何特征,所述第二几何特征为基于面片的N轴特征或基于边界的N轴特征;获取第二路径规划参数;所述第二路径规划参数包括:第二增材制造层高、第二路径生成模式及第二路径偏移量;根据所述第二几何特征和所述第二路径规划参数获取所述第二类特征对应的第二增材制造路径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710148863.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top