[发明专利]阵列基板测试电路及其制作方法

摘要

本发明公开一种阵列基板测试电路及其制作方法。阵列基板测试电路设于基板上，基板包括至少两个显示单元，至少两个显示单元包括第一及相邻设置的第二显示单元，第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，第二显示单元的阵列测试电极通过第一显示单元的外围对应连接第二显示单元的成盒测试电极，以通过第二显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出，减少耦合、漏电及炸伤问题的发生，从而提升显示面板生产良率。

主权项

一种阵列基板测试电路，其特征在于，所述阵列基板测试电路设置于基板上，所述基板包括至少两个显示单元，所述至少两个显示单元包括第一显示单元及与所述第一显示单元相邻设置的第二显示单元，所述第一及第二显示单元均包括阵列测试电极区及成盒测试电极区，所述阵列测试电极区包括若干阵列测试电极，所述成盒测试电极区包括若干成盒测试电极，所述第二显示单元的若干阵列测试电极通过所述第一显示单元的外围一一对应电性连接所述第二显示单元的若干成盒测试电极，以通过所述第二显示单元的成盒测试电极区驱动显示信号的输出。