[发明专利]一种曝光测试方法、控制终端、待测终端及曝光测试系统在审
| 申请号： | 201710123996.9 | 申请日： | 2017-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN106657994A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 蒋云 | 申请（专利权）人： | 深圳市金立通信设备有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/235 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所44242 | 代理人： | 林燕云 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种曝光测试方法、控制终端、待测终端及曝光测试系统。所述方法包括控制场景显示板显示测试场景；控制待测终端对显示的测试场景进行拍照以得到场景图像；接收场景图像并获取场景图像的亮度；将获取的场景图像亮度与预存的对应场景图像亮度进行对比得到对比结果；若对比结果不符合预设规则，则根据对比结果，控制所述待测终端调整曝光参数。所述实施例可以根据获取的场景图像亮度与预存的对应场景图像亮度的对比结果来控制待测终端调整曝光参数，提高了待测终端曝光测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 曝光 测试 方法 控制 终端 系统 | ||
【主权项】：
一种曝光测试方法，其特征在于，所述方法包括：控制场景显示板显示测试场景；控制待测终端对显示的测试场景进行拍照以得到场景图像；接收所述场景图像并获取所述场景图像的亮度；将获取的场景图像亮度与预存的对应场景图像亮度进行对比，得到对比结果；若对比结果不符合预设规则，则根据对比结果，控制所述待测终端调整曝光参数。
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