[发明专利]半导体器件及其制造方法在审
申请号: | 201710102089.6 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN108010957A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 周洛龙;郑永均;朴正熙;李钟锡;千大焕 | 申请(专利权)人: | 现代自动车株式会社 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的示例性实施例的半导体器件包括:电流施加区;和布置在电流施加区的端部的端接区。所述端接区包括:布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上的n‑型层;布置在n‑型层中的p型端接结构;和布置在p型端接结构上,以致与p型端接结构重叠的下栅极流道。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:电流施加区;和布置在电流施加区的端部的端接区,其中所述端接区包括:布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上的n-型层;布置在n-型层中的p型端接结构;和布置在p型端接结构上,以致与p型端接结构重叠的下栅极流道。
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