[发明专利]一种面向GPU包围盒碰撞检测方法在审

专利信息
申请号: 201710076635.3 申请日: 2017-02-13
公开(公告)号: CN106875492A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 张新宇;黄楠;郭娟 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G06T19/00 分类号: G06T19/00
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司31253 代理人: 冯子玲
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种面向GPU包围盒碰撞检测方法,包括以下三个阶段阶段1、包围盒层次结构构造阶段;阶段2、轴对齐包围盒(AABB)碰撞检测阶段;阶段3、包围盒层次结构更新阶段;其中,阶段2具体包括步骤21、在GPU上进行AABB重叠测试;步骤22、在GPU上进行基元三角形相交测试;本发明的一种面向GPU包围盒碰撞检测方法在保证高度交互式更新率的前提下,快速准确地检测两个严重变形模型的所有基元对之间的相交。
搜索关键词: 一种 面向 gpu 包围 碰撞 检测 方法
【主权项】:
一种面向GPU包围盒碰撞检测方法,其特征在于,包括以下三个阶段:阶段1、包围盒层次结构构造阶段;阶段2、轴对齐包围盒(AABB)碰撞检测阶段;阶段3、包围盒层次结构更新阶段;其中,所述阶段1具体为包括步骤11、在GPU上分阶段构造BVH树;所述阶段2具体为包括步骤21、在GPU上进行AABB重叠测试;步骤22、在GPU上进行基元三角形相交测试;所述阶段3具体为包括步骤31、使用包围盒修整的方式更新BVH树结构。
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