[发明专利]一种纵向型氮化镓基半导体器件及制造方法有效

专利信息
申请号: 201710071078.6 申请日: 2017-02-09
公开(公告)号: CN106952957B 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 欧阳伟伦;梁安杰;罗文健 申请(专利权)人: 香港商莫斯飞特半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/12;H01L21/336
代理公司: 11467 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 代理人: 王金双
地址: 中国香港新界沙田火炭坳背*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 一种纵向型氮化镓基半导体器件及制造方法,所述器件,包括,氮化镓衬底、氮化镓外延层,其中,沟槽底介质层下形成有N型区,正向导通时,电子从源极流经反形层、积累层、沟槽底所述N型区,然后垂直地经N型外延层至底部漏区金属电极。该方法包括,在氮化镓衬底上依次生长GaN外延层、P
搜索关键词: 一种 纵向 氮化 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
1.一种纵向型氮化镓基半导体器件的制造方法,该方法包括以下步骤:/n1)在氮化镓衬底上依次生长GaN外延层、P
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