[发明专利]基于反符合的用于正电子湮没多普勒展宽谱的方法及系统在审

专利信息
申请号: 201710058818.2 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN106841238A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 刘福雁;王宝义;李崇;况鹏;曹兴忠;张鹏;章志明;魏龙 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司11438 代理人: 姜怡,袁礼君
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开一种基于反符合的用于正电子湮没多普勒展宽谱的方法及系统。该方法包括利用放射源产生正电子,所述正电子包括进入样品的第一正电子和进入闪烁片的第二正电子;获取正电子湮没产生的伽马光子能量信息,所述伽马光子能量信息包括所述第一正电子湮没产生的第一伽马光子能量信息以及所述第二正电子湮没产生的第二伽马光子能量信息;获取所述第二正电子通过所述闪烁片时所述闪烁片产生的荧光信号;以及根据所述荧光信号,从所述伽马光子能量信息中去除所述第二伽马光子能量信息。本申请公开的基于反符合的用于正电子湮没多普勒展宽谱的方法及系统,能够去除无效的伽马光子能量信息。
搜索关键词: 基于 符合 用于 正电子 湮没 多普勒 展宽 方法 系统
【主权项】:
一种基于反符合的用于正电子湮没多普勒展宽谱的方法,其特征在于,包括:利用放射源产生正电子,所述正电子包括进入样品的第一正电子和进入闪烁片的第二正电子;获取正电子湮没产生的伽马光子能量信息,所述伽马光子能量信息包括所述第一正电子湮没产生的第一伽马光子能量信息以及所述第二正电子湮没产生的第二伽马光子能量信息;获取所述第二正电子通过所述闪烁片时所述闪烁片产生的荧光信号;以及根据所述荧光信号,从所述伽马光子能量信息中去除所述第二伽马光子能量信息。
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