[发明专利]一种差压式土壤基质势测量装置在审
| 申请号： | 201710044870.2 | 申请日： | 2017-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN106771084A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 李立;王康;张原 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01N33/24 | 分类号： | G01N33/24;G01N7/00 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)42222 | 代理人： | 齐晨涵,姜学德 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种差压式土壤基质势测量装置，包括差压传感器，上端开口的陶瓷头，所述陶瓷头由陶瓷套管密封，所述陶瓷套管内设置有差压传感器，所述差压传感器的一个压力感应口与陶瓷头内腔连通，另一个压力感应口与大气连通，所述差压传感器还与外部供电装置和信号接收装置连接。整个装置结构简单、测量精度高、效率高，且实现了自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 种差 土壤 基质 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种差压式土壤基质势测量装置，包括上端开口的陶瓷头（2），所述陶瓷头（2）由陶瓷套管（1）密封，所述陶瓷套管（1）内设置有差压传感器（15），所述差压传感器（15）的一个压力感应口（13）与陶瓷头（2）内腔连通，另一个压力感应口（10）与大气连通，所述差压传感器（15）还与外部供电装置和信号接收装置连接。
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