[发明专利]一种测量非线性晶体热透镜焦距的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201710041976.7 申请日: 2017-01-20
公开(公告)号: CN106706272B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 卢华东;魏娇;苏静;彭堃墀 申请(专利权)人: 山西大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 代理人: 张福增
地址: 030006 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明提供了一种测量非线性晶体热透镜焦距的装置和方法,装置包括非线性晶体、光学谐振腔、单频激光器、功率调节器、分束器、光电探测器、示波器、信号发生器、高压放大器。所述非线性晶体放置在光学谐振腔的最小腰斑处;单频激光器的输出光经功率调节器后注入到光学谐振腔中;分束器将光学谐振腔输出的倍频光和基频光分离;基频光注入到光电探测器,用示波器记录得到光学谐振腔的透射谱;由信号发生器产生低频信号,经高压放大器放大后加载于粘连在腔镜的压电陶瓷上。本发明根据记录的透射谱测量得到光学谐振腔谐振频率的偏移量,根据公式计算得到非线性晶体的热透镜焦距。该装置和方法简单、操作方便、测量结果准确,具有较高的实用价值。
搜索关键词: 一种 测量 非线性 晶体 透镜 焦距 装置 方法
【主权项】:
1.一种测量非线性晶体热透镜焦距的装置,包括非线性晶体(1)、光学谐振腔(2)、单频激光器(3)、功率调节器(4)、分束器(5)、光电探测器(6)、示波器(7)、信号发生器(8)、高压放大器(9);其特征在于,所述非线性晶体(1)由铟箔包覆通过真空铟焊置于紫铜控温炉中,并置于谐振腔的最小腰斑处,以保证最大的转化效率,控温炉采用热电制冷器(TEC)进行温度控制,控温精度为0.1℃,以实现最佳相位匹配;单频激光器(3)的输出光经过功率调节器(4)后注入到光学谐振腔(2)中;分束器(5)将光学谐振腔(2)输出的倍频光(10)和基频光(11)分离;基频光(11)注入到光电探测器(6)转化为电信号,光电探测器(6)输出的电信号输入到示波器(7),以记录不同注入功率下光学谐振腔(2)的透射谱;信号发生器(8)产生的低频扫描信号,经高压放大器(9)放大后加载于粘连在腔镜的压电陶瓷上。
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