[发明专利]一种存储器数据分层校验方法有效

专利信息
申请号: 201710035619.X 申请日: 2017-01-17
公开(公告)号: CN106776100B 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 陈为伟;张增安;林荣峰;吴敬玉;郭思岩 申请(专利权)人: 上海航天控制技术研究所
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 周乃鑫;周荣芳
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种存储器数据分层校验方法,对存储器的所有空间进行读操作,如果发现存储器单位翻转异常,将读取的该单位翻转异常地址的数据作为操作数回写到该单位翻转异常地址,完成对存储器单位翻转异常的修复,如果发现存储器多位翻转异常,将该多位翻转异常的地址本身作为操作数回写到该多位翻转异常地址,并标记该多位翻转异常地址,对该多位翻转异常地址中存储的三份完全相同的数据进行“三取二”检查,将“三取二”检查结果作为操作数回写到该多位翻转异常地址。本发明快速准确地定位发生存储器多位翻转异常的地址空间,能及时纠正存储器单位翻转异常和多位翻转异常,保证存储器中的存储数据持续稳定可靠,软件实现简单,成本低廉。
搜索关键词: 一种 存储器 数据 分层 校验 方法
【主权项】:
一种存储器数据分层校验方法,其特征在于,包含以下步骤:对存储器的所有空间进行读操作,如果发现存储器单位翻转异常,将读取的该单位翻转异常地址的数据作为操作数回写到该单位翻转异常地址,完成对存储器单位翻转异常的修复,如果发现存储器多位翻转异常,将该多位翻转异常的地址本身作为操作数回写到该多位翻转异常地址,并标记该多位翻转异常地址,对该多位翻转异常地址中存储的三份完全相同的数据进行“三取二”检查,将“三取二”检查结果作为操作数回写到该多位翻转异常地址。
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