[发明专利]基于动态光散射样本系综分析的颗粒快速检测方法及系统有效
| 申请号： | 201710028185.0 | 申请日： | 2017-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN106680159B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;李培 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/00;G01N11/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 林超 |
| 地址： | 310058 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于动态光散射样本系综分析的颗粒快速检测方法及系统。先对待检测颗粒样品进行分散，构建多个采样体并且并行收集动态散射光信号，由采样体散射信号构建样本系综，分析计算样本系综的时间相关性，通过颗粒运动特征实现颗粒检测。本发明单次测量颗粒的时间可在几至几十个毫秒，有助于实时检测；结合探测得到的包含幅度和相位信息的复数散射信号，能够获得更加准确可靠的相关性表征；并且对颗粒的检测具有空间分辨能力，能够确定空间分辨的颗粒运动特征。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 动态 散射 样本 分析 颗粒 快速 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
基于动态光散射样本系综分析的颗粒快速检测方法，包括：对待检测颗粒样品进行分散；构建多个采样体并且并行收集动态散射光信号；由多个采样体的散射信号构建样本系综，分析样本系综之间的时间相关性，检测颗粒运动特征。
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