[发明专利]阵列扫描噪声测量装置在审
| 申请号: | 201710009960.8 | 申请日: | 2017-01-06 |
| 公开(公告)号: | CN106840374A | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
| 发明(设计)人: | 蒋伟康;张焕强 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
| 主分类号: | G01H17/00 | 分类号: | G01H17/00 |
| 代理公司: | 上海交达专利事务所31201 | 代理人: | 王毓理,王锡麟 |
| 地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种阵列扫描噪声测量装置,包括二维噪声采集单元、驱动单元和控制单元,其中控制单元根据测量者的输入向驱动单元发送控制要求,驱动单元根据控制要求转化并处理成工作指令并发送至二维噪声采集单元,二维噪声采集单元使传感器阵列在横、纵两个方向电机的驱动下实现在整个竖直平面内的运动,测量给定竖直平面内的噪声信息。本发明具有高定位精度、高测试效率的能够在竖直平面内实现扫描全部测量点的阵列噪声测试装置。 | ||
| 搜索关键词: | 阵列 扫描 噪声 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种阵列扫描噪声测量装置,其特征在于,包括:二维噪声采集单元、驱动单元和控制单元,其中:控制单元根据测量者的输入向驱动单元发送控制要求,驱动单元根据控制要求转化并处理成工作指令并发送至二维噪声采集单元,二维噪声采集单元使传感器阵列在横、纵两个方向电机的驱动下实现在整个竖直平面内的运动,测量给定竖直平面内的噪声信息;所述的二维噪声采集单元包括:检测框架、滑动设置于检测框架内的横向滑动机构以及设置于横向滑动机构上的带有传感器阵列的纵向滑动机构,其中:传感器阵列固定设置于纵向滑动机构上并通过激光传感定位实现精确纵向位移。
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