[发明专利]阵列扫描噪声测量装置在审

专利信息
申请号: 201710009960.8 申请日: 2017-01-06
公开(公告)号: CN106840374A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 蒋伟康;张焕强 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01H17/00 分类号: G01H17/00
代理公司: 上海交达专利事务所31201 代理人: 王毓理,王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种阵列扫描噪声测量装置,包括二维噪声采集单元、驱动单元和控制单元,其中控制单元根据测量者的输入向驱动单元发送控制要求,驱动单元根据控制要求转化并处理成工作指令并发送至二维噪声采集单元,二维噪声采集单元使传感器阵列在横、纵两个方向电机的驱动下实现在整个竖直平面内的运动,测量给定竖直平面内的噪声信息。本发明具有高定位精度、高测试效率的能够在竖直平面内实现扫描全部测量点的阵列噪声测试装置。
搜索关键词: 阵列 扫描 噪声 测量 装置
【主权项】:
一种阵列扫描噪声测量装置,其特征在于,包括:二维噪声采集单元、驱动单元和控制单元,其中:控制单元根据测量者的输入向驱动单元发送控制要求,驱动单元根据控制要求转化并处理成工作指令并发送至二维噪声采集单元,二维噪声采集单元使传感器阵列在横、纵两个方向电机的驱动下实现在整个竖直平面内的运动,测量给定竖直平面内的噪声信息;所述的二维噪声采集单元包括:检测框架、滑动设置于检测框架内的横向滑动机构以及设置于横向滑动机构上的带有传感器阵列的纵向滑动机构,其中:传感器阵列固定设置于纵向滑动机构上并通过激光传感定位实现精确纵向位移。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710009960.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top