[发明专利]一种磁片弯曲度的全检方法及全检设备有效

专利信息
申请号: 201710001987.2 申请日: 2017-01-03
公开(公告)号: CN106840077B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 武刚 申请(专利权)人: 武刚
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;B07C5/34
代理公司: 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 代理人: 代忠炯
地址: 315100 浙江省宁波市鄞州区滨海投资*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种磁片弯曲度的全检方法,其特征在于:它包括以下步骤:S1、选取一工作台,工作台的台面呈水平状态设置;S2、将待检测产品平铺于工作台的台面上,且相邻产品之间留有间距;S3、对产品的边缘位置施加一水平方向的作用力,作用力的延长线与产品的重心所在的竖直轴线不相交;S4、当产品绕自身轴线转动时进行标记;S5、撤去作用力,并将检测后标记的产品置于第一缓存区,将检测后的其他产品置于合格品暂存区;S6、依序重复S2至S5的步骤,直至全部待检测产品完成检测。本发明提供一种磁片弯曲度的全检方法,其利用转动磁体可以快速的定性判断磁片的弯曲度。
搜索关键词: 一种 磁片 弯曲 方法 设备
【主权项】:
1.一种磁片弯曲度的全检方法,其特征在于:它包括以下步骤:S1、选取一工作台,工作台的台面呈水平状态设置;S2、将待检测产品平铺于工作台的台面上,且相邻产品之间留有间距,用于供各自的产品绕自身重心所在的竖直轴线转动;S3、对产品的边缘位置施加一水平方向的作用力,作用力的延长线与产品的重心所在的竖直轴线不相交;S4、当产品绕自身轴线转动时进行标记;S5、撤去作用力,并将检测后标记的产品置于第一缓存区,将检测后的其他产品置于合格品暂存区;S6、依序重复S2至S5的步骤,直至全部待检测产品完成检测。
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