[发明专利]一种小型静磁场实验装置的使用方法

摘要

本发明提供了一种小型静磁场实验装置的使用方法，使用的装置主要由磁头和回形支架组成。磁头是一个圆柱体形的强磁铁，回形支架是一个呈矩形的、截面呈圆或矩形的框，框的上部分是左右对称、不连接闭合的支架横梁。磁头能够相对支架横梁移动。其特征在于：操作步骤包括第一步，安装磁头，第二步，调整磁场。第三步，放置样品和实验。本发明有益效果是装置制作方便简单，成本低廉，通过调控磁铁间距离，能够定量实现对磁场强度的调控，专业性更强。

主权项

一种小型静磁场实验装置的使用方法，使用的装置主要由磁头（1）和回形支架（4）组成；所述磁头（1）是一个圆柱体形的强磁铁，磁头（1）柱体一端的面圆，被加工成平整光滑的平面，磁头（1）柱体另一端加工连接有一个同轴心的圆柱形中空套筒（3），中空套筒（3）内壁加工有套筒螺纹（2）；所述回形支架（4）是一个呈矩形的、截面呈圆或矩形的框，框的上部分是左右对称、不连接闭合的支架横梁（5），支架横梁（5）的两个端头上加工有横梁螺纹（6），左右横梁螺纹（6）分别各自与一个磁头（1）的套筒螺纹（2）相配合，即支架横梁（5）上2个平端面相对的磁头（1）左右对称；并且在两个端头横梁螺纹（6）处加工有到端头等距离长的2个标尺（7）；两个支架侧梁（8）与支架横梁（5）圆弧过渡相接，两个支架侧梁（8）与支架底梁（9）相接；支架底梁（9）配有回形支架底座（10）、回形支架横底座（11）和回形支架横支柱（12）；所述回形支架底座（10）是一个矩形体，根据回形支架底座（10）的宽a的尺寸等于或大于磁头（1）的直径ϕ分为各个不同规格；所述回形支架底座（10）与支架底梁（9）接触面上加工有2个支架底梁嵌柱（15），支架底梁嵌柱（15）能够嵌入支架底梁（9）对应加工的凹槽中；所述回形支架横底座（11）是2个矩形体，分别安置在回形支架（4）水平放倒后的两个支架侧梁（8）的正下方处；回形支架横底座（11）向上的表面加工有横支柱嵌柱（13）和支架底座嵌柱（14），分别能够嵌入回形支架横支柱（12）对应加工的凹槽中，和回形支架底座（10）对应加工的凹槽中；所述回形支架横支柱（12）的高度与回形支架底座（10）的宽a的规格一一对应，保证回形支架（4）放倒后水平；其特征在于，操作步骤如下：第一步，安装磁头（1）；根据实验要求的磁场大小，选取一对磁场强度大小一致的、端头平面磁极相反的磁头（1）；先将一个选取好的磁头（1）安装在回形支架（4）一个支架横梁（5）上，完全旋进磁头（1）到中空套筒（3）的长度全部套入支架横梁（5）上，再将选取好的另外一个磁头（1）安装在回形支架（4）另外一个支架横梁（5）上；然后，同时倒退磁头（1）到两个标尺（7）的“0”零刻度处，此时，两个磁头（1）的端平面紧紧相贴合在一起；第二步，调整；根据实验样品的大小，和磁场要求的大小，分别旋钮两个磁头（1），使两个磁头（1）逐渐分开，到合适相间距离后，将2个磁头（1）固定到两个标尺的相同刻度；记录标尺（7）读数，查标尺（7）对应的磁场强度，或在下一步中，直接测定样品位置处的磁场强度；第三步，放置样品实验；根据实验样品大小，选择竖直放置装置；或选择水平放置装置，选配回形支架横支柱（12）与回形支架底座（10）的宽a的规格；将试验样品，放入2个磁头之间的空隙中，依据设定时间长度，观察测定试验样品的效果；实验期间，能够继续调整2个磁头（1）之间的距离，改变磁场强度。