[发明专利]自动量子比特校准有效
| 申请号： | 201680087765.0 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN109804387B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | J.S.凯利 | 申请（专利权）人： | 谷歌有限责任公司 |
| 主分类号： | G06N10/00 | 分类号： | G06N10/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于自动量子比特校准的方法和装置。在一个方面，一种方法包括获得多个量子比特参数和描述多个量子比特参数对一个或多个其他量子比特参数的依赖性的数据；识别量子比特参数；选择包括所识别的量子比特参数和一个或多个依赖的量子比特参数的量子比特参数集；根据描述依赖性的数据顺序地处理该量子比特参数集中的一个或多个参数，包括，对于该量子比特参数集中的参数：对参数执行校准测试；以及当校准测试未通过时，对参数执行第一校准实验或诊断校准算法。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 量子 比特 校准 | ||
【主权项】：
1.一种方法，包括：获得多个量子比特参数和描述所述多个量子比特参数对一个或多个其他量子比特参数的依赖性的数据；识别量子比特参数；选择包括所识别的量子比特参数和一个或多个依赖的量子比特参数的量子比特参数集；根据描述依赖性的数据顺序地处理所述量子比特参数集中的一个或多个参数，包括，对于所述量子比特参数集中的参数：对该参数执行校准测试；以及当所述校准测试未通过时，对该参数执行第一校准实验或诊断校准算法。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于谷歌有限责任公司，未经谷歌有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680087765.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
