[发明专利]时间交织的模拟到数字转换器电路

摘要

一种TI ADC电路（30）包括：多个L个模拟输入（32‑1，32‑2，32‑3）以及多个L个数字输出（34‑1，34‑2，34‑3）。第i个模拟输入（32‑i）用于接收第i个模拟输入信号。第i个数字输出（34‑i）用于输出第i个数字输出信号，其作为第i个模拟输入信号的数字表示。TI ADC电路（30）包括子ADC（100‑1—100‑K）的集合（90）。TI ADC电路（30）被配置成每转换周期生成L个数字输出信号中的每个的一个采样。每个子ADC（100‑1—100‑K）被配置成在M个转换周期中生成数字输出采样，其中M是大于1的整数。子ADC（100‑1—100‑K）的集合（90）中的子ADC的数量K超过L·M。TI ADC电路（30）包括控制电路（120），其被配置成针对L个模拟输入信号中的每个的每个输入采样，选择子ADC的集合（90）中哪个可用的子ADC（100‑1—100‑K）应在那个输入采样上操作，以使得随着时间推移，子ADC（100‑1—100‑K）中的至少一些在L个模拟输入信号中的每个的输出采样上操作。

主权项

1.一种时间交织的TI模拟到数字转换器ADC电路（30），包括：多个L个模拟输入（32‑1，32‑2，32‑3）；以及多个L个数字输出（34‑1，34‑2，34‑3）；其中第i个模拟输入（32‑i）用于接收第i个模拟输入信号；第i个数字输出（34‑i）用于输出第i个数字输出信号，所述第i个数字输出信号是所述第i个模拟输入信号的数字表示；以及所述TI ADC电路（30）还包括子ADC（100‑1—100‑K）的集合（90）；其中所述TI ADC电路（30）被配置成每转换周期生成所述L个数字输出信号中的每个的一个采样；每个子ADC（100‑1—100‑K）被配置成在M个转换周期中生成数字输出采样，其中M是大于1的整数；以及子ADC（100‑1—100‑K）的所述集合（90）中的子ADC的数量K大于L·M；其中，所述TI ADC电路（30）还包括控制电路（120），其被配置成针对所述L个模拟输入信号中的每个的每个输入采样，选择子ADC的所述集合（90）中哪个可用的子ADC（100‑1—100‑K）应在那个输入采样上操作，以使得随着时间推移，所述子ADC（100‑1—100‑K）中的至少一些在所述L个模拟输入信号中的每个的输入采样上操作。