[发明专利]用于检查细长元件的方法有效
| 申请号: | 201680067676.X | 申请日: | 2016-11-17 |
| 公开(公告)号: | CN108291804B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
| 发明(设计)人: | 阿尔伯特·卡萨格兰德;塞尔吉奥·莫瑞里;吉尔伯托·斯皮里托;卢卡·费代里奇 | 申请(专利权)人: | 吉地股份公司 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/245;G01B11/25;A24C5/34 |
| 代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 方挺;黄谦 |
| 地址: | 意大利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明提出一种检查用于吸烟制品的圆柱形细长元件的方法,包括步骤:从第一/第二半空间将第一/第二光条投射到第一细长元件的外表面上/第一细长元件上。该方法借助第一细长元件的在所获取的第一/第二视图中识别的第一/第二曲线来重建第一细长元件的第一闭合弯曲截面轮廓并识别其相对于理想截面轮廓的可能变形。还包括以下步骤:将理想细长元件与第一细长元件在参考位置和第一位置处分别并排布置,通过第一光条和第二光条同时检查第一细长元件和理想细长元件;通过第一曲线和第二曲线分别在第一视图和第二视图中重建理想细长元件的第一闭合弯曲截面轮廓;监测理想细长元件的重建后的闭合弯曲截面轮廓,如果其与理想截面轮廓不同,则生成警告。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 检查 细长 元件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检查用于吸烟制品的圆柱形细长元件的方法,包括以下步骤:工作平面(P)选择为经过第一细长元件(2)的纵向轴线(S')并限定了第一半空间(3)和第二半空间(4),所述第一半空间和所述第二半空间布置在所述工作平面(P)的两侧;在所述检查方法的操作步骤中,将第一光条(5)从所述第一半空间(3)投射到所述第一细长元件(2)的外表面(8)上并在所述外表面(8)的检查部分(6)上获得第一三维光迹(7),将第二光条(9)从所述第二半空间(4)投射到所述检查部分(6)上并获得第二三维光迹(10);处理所述第一细长元件(2)的第一视图并在所述第一视图中识别出相应的第一曲线(7'),所述第一视图是通过从所述第一半空间(3)框定所述第一细长元件(2)获得的;处理所述第一细长元件(2)的第二视图并在所述第二视图中识别出相应的第二曲线(10'),所述第二视图是通过从所述第二半空间(4)框定所述第一细长元件(2)获得的;通过处理所述第一曲线(7')和所述第二曲线(10')来重建所述第一细长元件(2)的第一闭合弯曲截面轮廓(12);将重建后的所述第一闭合弯曲截面轮廓(12)与理想闭合截面轮廓进行比较,以识别重建后的所述第一闭合弯曲截面轮廓(12)相对于所述理想截面轮廓的可能变形;所述方法的特征在于,在参考位置布置理想细长元件(24),所述理想细长元件与布置在第一位置的所述第一细长元件(2)并排布置,使得所述第一细长元件(2)的所述纵向轴线(S')和所述理想细长元件(24)的纵向轴线(S”')布置在所述工作平面(P)中;通过所述第一光条(5)和所述第二光条(9)同时检查所述第一细长元件(2)和所述理想细长元件(24);将所述第一光条(5)投射在所述理想细长元件(24)的外表面(26)上获得第一三维光迹(25)并且将所述第二光条(9)投射在所述理想细长元件(24)的所述外表面(26)上获得第二三维光迹(27);从所述第一半空间(3)同时框定所述第一细长元件(2)和所述理想细长元件(24),以处理所述第一视图来附加地识别出所述理想细长元件(24)的第一曲线(25');从所述第二半空间(3)同时框定所述第一细长元件(2)和所述理想细长元件(24),以处理所述第二视图来附加地识别出所述理想细长元件(24)的第二曲线(27');通过处理所述理想细长元件的第一曲线(25')和第二曲线(27')来重建所述理想细长元件(24)的闭合弯曲截面轮廓(36);监测所述理想细长元件(24)的闭合弯曲截面轮廓(36),如果所述理想细长元件(24)的闭合弯曲截面轮廓(36)与理想截面轮廓不同,则生成警告。
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