[发明专利]ATR反射元件和ATR光谱方法在审
| 申请号： | 201680063657.X | 申请日： | 2016-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN108351298A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 劳伦兹·希科劳 | 申请（专利权）人： | 劳伦兹·希科劳 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 德国伊*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及ATR反射元件，其包括具有第一有效折射率n1的主体和传输层，该传输层包括第一层边界和相对的第二层边界，其中传输层设计和配置成通过第二层边界摄取流体，其中传输层邻接主体，其中传输层与主体之间的边界由第一层边界形成，其中传输层在第二层边界处具有第二有效折射率n2，其中第一有效折射率n1大于第二有效折射率n2且第二有效折射率n2大于1，其中第一有效折射率n1和第二有效折射率n2在每种情况下均在IR波长λATR处在25℃的真空中确定，其中λATR从2μm至20μm的波长范围中选取。另外，本发明涉及包括所述ATR反射元件的ATR光谱仪以及ATR光谱方法。 | ||
| 搜索关键词： | 有效折射率 传输层 反射元件 第一层 波长 光谱 传输层设计 光谱仪 边界处 邻接 摄取 流体 配置 | ||
【主权项】：
1.ATR反射元件，具体为ATR‑IR反射元件，包括：主体，具有第一有效折射率n1；传输层，具有第一层边界和相对的第二层边界，其中，所述传输层设计和配置成通过所述第二层边界摄取流体；其中，所述传输层邻接所述主体，具体地，邻接所述主体的第一边界表面区域，其中，传输层与所述主体之间的边界由所述第一层边界形成，其中，所述传输层在所述第二层边界处具有第二有效折射率n2，其中，所述第一有效折射率n1大于所述第二有效折射率且所述第二有效折射率n2大于1，其中，所述第一有效折射率n1和所述第二有效折射率n2每个均在IR波长λATR处在25℃的真空中确定，其中，λATR从2μm至20μm的波长范围中选取。
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