[发明专利]在触点处具有石墨烯界面层的石墨烯FET在审
| 申请号: | 201680063096.3 | 申请日: | 2016-11-07 |
| 公开(公告)号: | CN108352323A | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
| 发明(设计)人: | 路易吉·科隆博;阿尔莎娜·韦努戈帕尔 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
| 主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;B82B3/00;H01L29/772 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 在所描述实例中,一种用于形成石墨烯FET的方法(100)包含提供(101)具有石墨烯表面的石墨烯层。在所述石墨烯表面上沉积(102)具有功函数(WF)<4.3eV的第一金属层。氧化(103)所述第一金属层以形成第一金属氧化物层。蚀刻(104)所述第一金属氧化物层以提供包含所述石墨烯层中用于提供石墨烯表面源极和漏极触点的第一区域和第二区域的敞开表面接触区域。沉积(105)第二金属层,所述第二金属层包含在所述石墨烯表面源极触点上提供具有源极触点的源极的第二金属层部分和在所述石墨烯表面漏极触点上提供具有漏极触点的漏极的第二金属层部分。在所述源极触点与所述石墨烯表面源极触点之间的界面处和在所述漏极触点与所述石墨烯表面漏极触点之间的界面处形成(106)生长石墨烯层。 | ||
| 搜索关键词: | 石墨烯 漏极触点 第二金属层 表面源极 石墨烯层 触点 金属氧化物层 第一金属层 源极触点 界面处 沉积 石墨烯界面层 蚀刻 敞开表面 第二区域 第一区域 接触区域 功函数 漏极 源极 生长 | ||
【主权项】:
1.一种用于形成石墨烯场效应晶体管FET的触点的方法,其包括:提供在衬底上具有石墨烯表面的石墨烯层;在所述石墨烯表面上沉积具有功函数WF<4.3eV的第一金属层;氧化所述第一金属层以形成第一金属氧化物层;蚀刻所述第一金属氧化物层以提供敞开表面接触区域,所述敞开表面接触区域包含所述石墨烯层中用于分别提供石墨烯表面源极触点和石墨烯表面漏极触点的第一区域和第二区域;沉积第二金属层,所述第二金属层包括在所述石墨烯表面源极触点上提供具有源极触点的源极的第二金属层部分和在所述石墨烯表面漏极触点上提供具有漏极触点的漏极的第二金属层部分,以及在所述源极触点与所述石墨烯表面源极触点之间的界面处和在所述漏极触点与所述石墨烯表面漏极触点之间的界面处形成生长石墨烯界面层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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