[发明专利]检测元件在审
| 申请号： | 201680059153.0 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN108140534A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 太田浩平;本村知久;高野贵正;中山浩一 | 申请（专利权）人： | 大日本印刷株式会社 |
| 主分类号： | H01J47/06 | 分类号： | H01J47/06;G01T1/18 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴秋明 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够得到高信号强度且高S/N比的高分辨率的放射线图像的检测元件。检测元件具有：设置了贯通孔的基板；配置在贯通孔的内部的绝缘层；配置于比绝缘层更靠贯通孔的内侧的贯通电极；设置使贯通电极露出的开口部，且一部分与贯通电极相接的绝缘性的树脂层；配置在贯通电极以及树脂层的上方，通过开口部与贯通电极连接的第一电极；和在树脂层的上方，与第一电极隔开配置的第二电极。 | ||
| 搜索关键词： | 贯通电极 贯通孔 树脂层 绝缘层 第一电极 开口部 检测 配置 放射线图像 第二电极 高分辨率 绝缘性 配置的 隔开 基板 | ||
【主权项】：
一种检测元件，具有：基板，其设置有贯通孔；绝缘层，其配置在所述贯通孔的内部；贯通电极，其配置于比所述绝缘层更靠所述贯通孔的内侧；绝缘性的树脂层，其设置有使所述贯通电极露出的开口部；第一电极，其配置在所述贯通电极以及所述树脂层的上方，并通过所述开口部与所述贯通电极连接；和第二电极，其在所述树脂层的上方，与所述第一电极隔开配置，所述树脂层的一部分与所述贯通电极相接。
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