[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201680054542.4 申请日: 2016-09-05
公开(公告)号: CN108028204B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 阴泳信;小山和博;樋口安史;土屋义规;星真一 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: H01L21/338 分类号: H01L21/338;H01L29/06;H01L29/778;H01L29/812
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 朴勇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体装置具有导电性的基板(1)、沟道形成层、第一电极(4)、以及第二电极(5)。沟道形成层形成在基板上,至少具备一个具有构成漂移区域的第一GaN系半导体层(2)以及与第一GaN系半导体层相比带隙能量更大的第二GaN系半导体层(3)的异质结构造。包含第一GaN系半导体层的极化所带来的电荷在内,第一GaN系半导体层及第二GaN系半导体层所含的电荷的总固定电荷量被设为0.5×1013~1.5×1013cm‑2的范围内。由此,在半导体装置中,实现击穿电压的提高及导通电阻的降低。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,具有:导电性的基板(1);形成在上述基板上、且至少具备一个异质结构造的沟道形成层,该异质结构造具有构成漂移区域的第一GaN系半导体层(2)、以及与上述第一GaN系半导体层相比带隙能量更大的第二GaN系半导体层(3);第一电极(4),与上述第二GaN系半导体层相接地形成;以及第二电极(5),与上述第二GaN系半导体层相接地形成,并与上述第一电极分离地形成,上述第一电极与上述第二电极之间的距离(L)比由上述第一GaN系半导体层以及上述第二GaN系半导体层形成的异质结构造的厚度(D)长,在上述第一GaN系半导体层与上述第二GaN系半导体层的界面中的上述第一GaN系半导体层一侧,形成因极化而生成的二维电子气所形成的载流子,从而流过电流,包含上述第一GaN系半导体层的极化所带来的电荷在内,上述第一GaN系半导体层及上述第二GaN系半导体层中所含的电荷的总固定电荷量被设为0.5×1013~1.5×1013cm-2的范围内。
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