[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201680054542.4 | 申请日: | 2016-09-05 |
公开(公告)号: | CN108028204B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 阴泳信;小山和博;樋口安史;土屋义规;星真一 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L21/338 | 分类号: | H01L21/338;H01L29/06;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 朴勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
半导体装置具有导电性的基板(1)、沟道形成层、第一电极(4)、以及第二电极(5)。沟道形成层形成在基板上,至少具备一个具有构成漂移区域的第一GaN系半导体层(2)以及与第一GaN系半导体层相比带隙能量更大的第二GaN系半导体层(3)的异质结构造。包含第一GaN系半导体层的极化所带来的电荷在内,第一GaN系半导体层及第二GaN系半导体层所含的电荷的总固定电荷量被设为0.5×10 |
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搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,具有:导电性的基板(1);形成在上述基板上、且至少具备一个异质结构造的沟道形成层,该异质结构造具有构成漂移区域的第一GaN系半导体层(2)、以及与上述第一GaN系半导体层相比带隙能量更大的第二GaN系半导体层(3);第一电极(4),与上述第二GaN系半导体层相接地形成;以及第二电极(5),与上述第二GaN系半导体层相接地形成,并与上述第一电极分离地形成,上述第一电极与上述第二电极之间的距离(L)比由上述第一GaN系半导体层以及上述第二GaN系半导体层形成的异质结构造的厚度(D)长,在上述第一GaN系半导体层与上述第二GaN系半导体层的界面中的上述第一GaN系半导体层一侧,形成因极化而生成的二维电子气所形成的载流子,从而流过电流,包含上述第一GaN系半导体层的极化所带来的电荷在内,上述第一GaN系半导体层及上述第二GaN系半导体层中所含的电荷的总固定电荷量被设为0.5×1013 ~1.5×1013 cm-2 的范围内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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