[发明专利]铜合金板材及其制造方法

摘要

在可利用铜系材料的通用废料制造的铜合金成分系中提供具有75.0％IACS以上的高导电性并且均衡地兼具高强度和良好的耐应力松弛特性的铜合金板材。铜合金板材，用质量％表示，具有Zr：0.01～0.50％、Sn：0.01～0.50％、Mg、Al、Si、P、Ti、Cr、Mn、Co、Ni、Zn、Fe、Ag、Ca、B的合计含量：0～0.50％、余量为Cu和不可避免的杂质的化学组成，具有如下的金相组织：粒径5～50nm左右的微细第二相粒子的个数密度NA为10.0个/0.12μm2以上，并且粒径超过约0.2μm的粗大第二相粒子的个数密度NB(个/0.012mm2)与上述NA之比NB/NA为0.50以下。

主权项

1.铜合金板材，用质量％表示，具有Zr：0.01～0.50％、Sn：0.01～0.50％、Mg、Al、Si、P、Ti、Cr、Mn、Co、Ni、Zn、Fe、Ag、Ca、B的合计含量：0～0.50％、余量为Cu和不可避免的杂质的化学组成，具有根据下述(A)确定的微细第二相粒子的个数密度NA为10.0个/0.12μm2以上、并且根据下述(B)确定的粗大第二相粒子的个数密度NB(个/0.012mm2)与上述NA之比NB/NA为0.50以下的金相组织，导电率为75.0％IACS以上，轧制平行方向(LD)的拉伸强度为450MPa以上，(A)采用具有EDS(能量分散型X射线分析装置)的TEM(透射型电子显微镜)，在板厚方向上观察的视野内随机地设置0.4μm×0.3μm(面积0.12μm2)的矩形观察区域，在该观察区域内的Cu母相部分中随机地选择的3处位置进行EDS分析，测定Zr的检测强度，将上述3处的平均Zr检测强度设为I0，对于在TEM像中作为与母相的对比度的不同所观察的粒状物中在该观察区域内全部或一部分存在的所有的粒状物，在与上述I0测定相同的条件下进行EDS分析，对测定上述I0的10倍以上的Zr检测强度的粒状物的个数进行计数，对于不重复的3个以上的矩形观察区域进行该操作，将上述的计数的粒状物的合计数除以观察区域的合计面积所得的值换算为每0.12μm2的个数，将其设为微细第二相粒子的个数密度NA(个/0.12μm2)，(B)采用FE-EPMA(场致发射型电子束微量分析器)，对于在与板面(轧制面)平行的观察面中随机地设置的120μm×100μm(面积0.012mm2)的矩形测定区域，在加速电压15kV、步长0.2μm的面分析条件下用WDS(波长分散型分光器)测定Zr的荧光X射线检测强度(以下称为“Zr检测强度”)，将该测定区域内的Zr检测强度的最大值设为100％，用百分率表示各测定点的Zr检测强度，对得到了将Zr检测强度为不到上述最大值的50％的测定点的位置用黑表示、将为50％以上的测定点的位置用白表示的双值映射图像时的、由1个的单独的白表示点或2个以上的邻接的白表示点构成的涂白区域的数进行计数，其中，在1个涂白区域的轮廓内存在黑表示点的情况下，将该黑表示点视为白表示点，对于不重复的3个以上的矩形测定区域进行该操作，将用上述的计数的涂白区域的合计数除以测定区域的合计面积所得的值换算为每0.012mm2的个数，将其设为粗大第二相粒子的个数密度NB(个/0.012mm2)。