[发明专利]具有轴向场的碰撞池有效
| 申请号： | 201680052454.0 | 申请日： | 2016-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN108140535B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | J·施韦特斯 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/30;H01J49/42;H01J49/04;H01J49/06 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种包含碰撞池的质谱仪，所述碰撞池具有相对于较重离子提高轻离子、尤其元素离子穿过所述碰撞池的透射率的轴向电场。本发明也提供采用提供于碰撞池的轴向电场的质谱分析的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 轴向 碰撞 | ||
【主权项】：
一种同位素比质谱分析的方法，所述方法包含以下步骤：i.将来自离子源的元素离子传输到包含至少一个离子导向器的碰撞池中，其中所述碰撞池含有至少一种反应或碰撞气体；ii.在所述碰撞池中施加轴向电场梯度以用于提高离子穿过所述碰撞池的透射率；iii.将所述碰撞池中的离子传输到用于质量分析的扇形场质量分析仪中，随后使用多集电极检测离子，和分析所检测离子的同位素比。
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