[发明专利]纳米粒子的筛选方法及筛选系统、与纳米粒子及其制造方法在审
| 申请号： | 201680049692.6 | 申请日： | 2016-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN108291872A | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 中村浩之;佐伯真纪;田中雅典;金海荣一 | 申请（专利权）人： | 国立研究开发法人产业技术综合研究所;NS材料株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;B82Y20/00;B82Y35/00;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人： | 刘昕 |
| 地址： | 日本国东京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明尤其提供一种有效地探索纳米的表示改性条件，与先前相比减少了表面性质所需的时间、劳力及样品量的纳米粒子的筛选方法及筛选系统。本发明中的纳米粒子的筛选方法的特征在于，包括：将纳米粒子悬浮液细分至被设置在收纳容器中的多个收纳部的各收纳部中的步骤；在所述收纳部的各收纳部中以不同条件进行纳米粒子的表面改性处理的步骤；向各收纳部内添加分散介质而生成混合了所述纳米粒子和所述分散介质的评价样品的步骤；通过光学分析对各收纳部的所述评价样品进行评价的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米粒子 收纳部 分散介质 筛选系统 筛选 纳米粒子悬浮液 表面改性处理 表面性质 不同条件 改性条件 光学分析 收纳容器 样品量 有效地 制造 探索 | ||
【主权项】：
1.一种纳米粒子的筛选方法，其特征在于，包括：将纳米粒子悬浮液细分至被设置在收纳容器中的多个收纳部的各收纳部中的步骤；在所述各收纳部中以不同条件进行纳米粒子的表面改性处理的步骤；向所述各收纳部内添加分散介质而生成混合了所述纳米粒子和所述分散介质的评价样品的步骤；通过光学分析对所述每个收纳部的所述评价样品进行评价的步骤。
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