[发明专利]位置检测系统和位置检测方法在审
| 申请号： | 201680023163.9 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN107529949A | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 千叶淳;铃木优辅 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | A61B1/00 | 分类号： | A61B1/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 位置检测系统具备探测体，其设置有永磁体和产生交变磁场的磁场发生部；多个检测线圈，其检测交变磁场并输出多个检测信号；引导用磁场发生装置，其相对于用于配设多个检测线圈的规定的面而言配置在探测体的检测对象区域的相反侧，具有产生探测体的引导用磁场的磁场发生源以及用于使磁场发生源的位置和姿势中的至少一个变化的驱动机构，磁场发生源或驱动机构的至少一部分包含产生干扰磁场的导电体；引导用磁场控制装置，其对驱动机构的动作进行控制；以及位置检测运算装置，其使用基于驱动机构的控制信号决定的导电体的位置和姿势中的至少一个，来计算探测体的位置和姿势中的至少一个。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种位置检测系统，其特征在于，具备：向被检体内导入的探测体，其在内部设置有永磁体和产生位置检测用的交变磁场的磁场发生部；多个检测线圈，所述多个检测线圈被配设在所述被检体的外部，各个所述检测线圈检测所述交变磁场并输出检测信号；引导用磁场发生装置，其相对于用于配设所述多个检测线圈的规定的面而言配置在所述探测体的检测对象区域的相反侧，具有产生用于引导所述探测体的引导用磁场的磁场发生源以及用于使所述磁场发生源的位置和姿势中的至少一个变化的驱动机构，所述磁场发生源或所述驱动机构的至少一部分包含通过所述交变磁场的作用而产生干扰磁场的导电体；引导用磁场控制装置，其对所述驱动机构的动作进行控制；以及位置检测运算装置，其使用基于从所述引导用磁场控制装置输出的针对所述驱动机构的控制信号决定的所述导电体的位置和姿势中的至少一个以及所述多个检测线圈分别输出的多个所述检测信号，来计算所述探测体的位置和姿势中的至少一个。
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