[实用新型]一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试装置有效
申请号: | 201621461992.9 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN206311435U | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 徐洲龙;陈建魁;谭万洲;丁汉;尹周平 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;广东思谷智能技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/20 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 梁鹏 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型属于柔性电子测试相关技术领域,并公开一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试装置,其包括两个固定芯轴单元和两个弯曲芯轴单元,每个固定芯轴单元起固定和拉伸柔性电子作用且具有X方向的自由度,并可装有张力传感器;每个弯曲芯轴单元可实现给定芯轴半径的弯曲且具有X、Y方向的自由度,并可装有压力传感器和CCD相机。通过本实用新型的四个芯轴单元的组合,可实现恒定张力、弯曲压力、测试温度,弯曲半径、弯曲速度和弯曲角度可调的C型、S型和G型等复杂曲面抗挠曲测试,也可实现抗拉伸性能测试,有效解决了现有装置只能进行简单C型测试,测试条件不定量导致测试数据不准确等缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 柔性 电子 拉伸 挠曲 性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种柔性电子抗拉伸与抗挠曲性能测试装置,该装置包括底板(25)、以及设置在该底板(25)上表面同一平面内的第一固定芯轴单元(24)、第二固定芯轴单元(23)、第一弯曲芯轴单元(22)和第二弯曲芯轴单元(21),其中所述第一固定芯轴单元、第二固定芯轴单元的结构相同,它们保持相对置地位于所述底板(25)的左右侧部且将作为测试对象的柔性电子的两端予以固定,并可彼此独立地执行沿着X轴方向的相对运动;所述第一弯曲芯轴单元、第二弯曲芯轴单元的结构相同,它们位于所述底板(25)的中部且各自均可彼此独立地执行沿着X轴方向和Y轴方向的相对运动,并用于带动柔性电子的中段部位分别予以弯曲。
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