[实用新型]一种内存快速检测系统有效
| 申请号： | 201621416511.2 | 申请日： | 2016-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN206411656U | 公开（公告）日： | 2017-08-15 |
| 发明（设计）人： | 蔡燕;谭宏山 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种DDR4内存快速检测系统，其特征在于，包括测试机台及设于所述测试机台上的测试系统、电源开关及显示器，其特征在于，所述测试系统包括输入模块、输出模块、测试模块和中央处理器，所述测试模块的一端与输入模块连接，所述测试模块的另一端与输出模块连接，所述测试模块上海连接有中央处理器；本实用新型能够独立读取SPD信息，支持内存的即插即用，不再需要重启电脑，且本系统可以通过测试系统自动将二进制信息通过ASCII码自动转换成易识别信息，避免人为换算的错误，大大提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 快速 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种DDR4内存快速检测系统，其特征在于，包括：测试机台（1）及设于所述测试机台(1)上的测试系统(2)、电源开关(3)及显示器(4)，其特征在于， 所述测试系统(2)包括：输入模块、输出模块、测试模块和中央处理器，所述测试模块的一端与输入模块连接，所述测试模块的另一端与输出模块连接，所述测试模块上海连接有中央处理器；所述测试模块包括：电源模块、内存模块、待测模块1和待测模块2，所述电源模块分别与内存模块、待测模块1和待测模块2并联连接；所述电源模块与待测模块1之间设置有1号开关（21），所述电源模块与待测模块2之间设置有2号开关（22）；所述电源开关(3)分别控制测试系统(2)通电；所述显示器(4)连接所述测试机台(1)，用于显示测试系统(2)的测试结果。
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