[实用新型]一种RFID标签介质影响的动态测试系统

摘要

本实用新型公开了一种RFID标签介质影响的动态测试系统，本系统基于控速轨道装置、标签固定托盘、介质环境模拟装置、伸缩调节支架、标签信号识别装置以及总控制器来实现。基于上述方案构成的移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方案够综合测试介质影响下的移动速度指标检测，自动控制检测过程，可控性高，可重复性强，介质多样可调、并极大地提高检测效率，从而提高RFID系统在典型应用场景中规模化应用的增长率，且针对的介质多样规格化，结构简单，实现方法简便，操作便捷。

主权项

一种RFID标签介质影响的动态测试系统，其包括：控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。