[实用新型]一种DIP测试多工位防呆装置有效

专利信息
申请号: 201621231278.0 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN206161788U 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 杨裕明;承龙;邱冬冬 申请(专利权)人: 长电科技(滁州)有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 南京知识律师事务所32207 代理人: 蒋海军
地址: 239000 安徽省滁州市经济技*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种DIP测试多工位防呆装置,属于半导体测试技术领域。本实用新型的一种DIP测试多工位防呆装置,包括测试台台面,所述测试台台面上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置,该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面上的定位支架及分别与不同工位DUT板对应相连的定位板,其中,所述的定位板上均加工有定位卡槽,且不同定位板上定位卡槽的位置互不相同,所述定位支架上设有与各定位板上定位卡槽分别对应的定位销能。通过使用本实用新型的DIP测试多工位防呆装置能够有效避免不同工位DUT板交叉接错现象的发生,从而保证芯片性能的正常测试。
搜索关键词: 一种 dip 测试 多工位防呆 装置
【主权项】:
一种DIP测试多工位防呆装置,包括测试台台面(1),其特征在于:所述测试台台面(1)上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置,该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面(1)上的定位支架(2)及分别与不同工位DUT板(5)对应相连的定位板(4),其中,所述的定位板(4)上均加工有定位卡槽(401),且不同定位板(4)上定位卡槽(401)的位置互不相同,所述定位支架(2)上设有与各定位板(4)上定位卡槽(401)分别对应的定位销(203),通过定位卡槽(401)与定位销(203)的配合实现不同工位DUT板(5)的接错防呆功能。
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