[实用新型]玻璃基板厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 201621189247.3 申请日: 2016-10-31
公开(公告)号: CN206300629U 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 吴军;苏记华;王展;王陆钰;吴宏斌;沈先良;严雷 申请(专利权)人: 郑州旭飞光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 代理人: 陈庆超,桑传标
地址: 450016 河南省郑*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 本公开涉及一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括第一夹持部,用于将所述玻璃基板的上边缘夹持在传送机构上;测量平台,该测量平台上设置有用于夹持所述玻璃基板的下边缘的第二夹持部,以及用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器;所述测量平台包括底座和台架,以及设置在所述台架和底座之间的高度调节机构,所述台架上设置有所述第二夹持部和所述测厚传感器,所述高度调节机构用于驱动所述台架沿纵向接近或远离所述第一夹持部。通过上述技术方案,在高度调节机构的驱动下,使得测量平台上下移动,以测量不同尺寸的玻璃基板的厚度,能够解决玻璃基板在制程中不同品种无法匹配的技术问题。
搜索关键词: 玻璃 厚度 测量 装置
【主权项】:
一种玻璃基板厚度测量装置,该测量装置包括:第一夹持部(4),用于将所述玻璃基板(3)的上边缘夹持在传送机构(5)上;测量平台,该测量平台上设置有用于夹持所述玻璃基板(3)的下边缘的第二夹持部(21),以及用于检测玻璃基板厚度的测厚传感器(6);其特征在于,所述测量平台包括底座(1)和台架(2),以及设置在所述台架(2)和底座(1)之间的高度调节机构,所述台架(2)上设置有所述第二夹持部(21)和所述测厚传感器(6),所述高度调节机构用于驱动所述台架(2)沿纵向接近或远离所述第一夹持部(4)。
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