[实用新型]一种PCB微钻检查用辅助装置有效
| 申请号： | 201621119261.6 | 申请日： | 2016-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN206281775U | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王俊锋;王雪峰;王晓峰 | 申请（专利权）人： | 新野鼎泰高科精工科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/29 | 分类号： | G01N21/29 |
| 代理公司： | 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙)41117 | 代理人： | 秦舜生 |
| 地址： | 473500 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种PCB微钻检查用辅助装置，包括基座和铰接于所述基座顶部的检测机构，所述基座底部分别设有定位螺钉、沉孔及用于摆放钻针的料盘，所述定位螺钉仅设于所述基座一侧，所述料盘一侧边与所述定位螺钉相接触，且所述料盘四周钻孔与所述沉孔相匹配，所述检测结构为框状，且所述检测机构表面设有多个卡槽，所述卡槽上放置有薄铝/铜片；工作时，所述薄铝/铜片对钻针刃部形成光线反差，所述检测机构通过光线反差的不同来判断钻针的优劣。与现有技术相比，本实用新型不仅能有效解决误判断针的问题，而且工作效率大大提高，满足对于检查断针的工作要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcb 检查 辅助 装置 | ||
【主权项】：
一种PCB微钻检查用辅助装置，其特征在于：包括基座和铰接于所述基座顶部的检测机构，所述基座底部分别设有定位螺钉、沉孔及用于摆放钻针的料盘，所述定位螺钉仅设于所述基座一侧，所述料盘一侧边与所述定位螺钉相接触，且所述料盘四周钻孔与所述沉孔相匹配，所述检测结构为框状，且所述检测机构表面设有多个卡槽，所述卡槽上放置有薄铝/铜片；工作时，所述薄铝/铜片对钻针刃部形成光线反差，所述检测机构通过光线反差的不同来判断钻针的优劣。
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