[实用新型]一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪有效
申请号: | 201621032736.8 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN206060771U | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 熊军 | 申请(专利权)人: | 维沃移动通信有限公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;G01R1/04 |
代理公司: | 中山市汉通知识产权代理事务所(普通合伙)44255 | 代理人: | 田子荣 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型实施例提供了本实用新型实施例提供的一种射频测试头结构及应用其的射频测试仪,所述射频测试头结构包括同轴线,同轴线包括内芯线和屏蔽导电层,其中,所述同轴线一侧还设置有接地柱,接地柱与所述屏蔽导电层电连接,所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时,接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一水平位置。所述射频测试头,通过同轴线与接地柱紧密连接,大大缩小了同轴线的内芯线与地端的距离,使射频测试头能适用于元器件密集的线路板;同时使用时需将所述射频测试头与线路板垂直接触,即固定了使用该射频测试头时测试头与线路板的角度,提高了测试精度,无需对同轴线进行焊接,使用方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 射频 测试 结构 应用 测试仪 | ||
【主权项】:
一种射频测试头结构,包括同轴线,同轴线包括内芯线和屏蔽导电层,其特征在于,所述同轴线一侧还设置有接地柱,所述接地柱与所述屏蔽导电层电连接,所述射频测试头与待测试点所在的平面垂直接触时,所述接地柱的顶端与所述内芯线的顶端径向处于同一平面上。
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