[实用新型]点硅胶高度检查的辅助治具有效

专利信息
申请号: 201620975792.9 申请日: 2016-08-30
公开(公告)号: CN206056511U 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 郝兴旺 申请(专利权)人: 常州银河世纪微电子股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 常州市科谊专利代理事务所32225 代理人: 孙彬
地址: 213022 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种点硅胶高度检查的辅助治具,包括基座,以及设置在基座上的反射机构,基座的中部设有用于安装反射机构的凹槽,反射机构固定连接在凹槽内;所述反射机构的横截面为等腰直角三角形,并且该等腰直角三角形的一个直角边固定在凹槽上,另一个直角边与凹槽平面垂直,斜边所在的平面为镜面反射平面。本实用新型通过镜面反射平面将硅胶的影像进行转角90度的反射,将硅胶的高度转化为长度,从而可以利用体式显微镜进行硅胶侧面高度的检查;本实用新型的镜面反射平面上还刻有最小量线和最大量线,通过该定性测量线条,便于检验人员直观地进行判定;本实用新型能够准确的测出点硅胶的高度,保证产品的可靠性,方便测量人员操作。
搜索关键词: 硅胶 高度 检查 辅助
【主权项】:
一种点硅胶高度检查的辅助治具,其特征在于:包括基座(1),以及设置在基座(1)上的反射机构(3),所述基座(1)的中部设有用于安装反射机构(3)的凹槽(2),所述反射机构(3)固定连接在凹槽(2)内;所述反射机构(3)的横截面为等腰直角三角形,并且该等腰直角三角形的一条直角边所在平面固定在凹槽(2)上,另一条直角边所在平面与凹槽平面垂直,斜边所在的平面为镜面反射平面(4)。
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